Взгляд с обложки. Интервью В.Н. Адрова журналу GIM International.

Дата: 18 января 2013

Тип публикации: сми о нас

Во время проведения 12-й Международной научно-технической конференции «От снимка к карте: цифровые фотограмметрические технологии» один из мировых информационных лидеров геопространственной отрасли — журнал GIM International взял интервью у генерального директора компании «Ракурс». Виктор Николаевич Адров вспоминает зарождение цифровой фотограмметрии в России, и с оптимизмом заглядывает в будущее. Читайте интервью в 12 номере журнала за 2012 год или на сайте издания. GIM International — одно из ведущих профессиональных изданий в мире, освещающих деятельность геоинформационной отрасли. Журнал издаётся с 1986 года и читается в 160 странах мирах. Компания «Ракурс» тесно сотрудничает с GIM International на протяжении вот уже 15 лет. Редакторы и журналисты издания ежегодно освещают мероприятия научно-технической конференции «От снимка к карте: цифровые фотограмметрические технологии», а ЦФС PHOTOMOD регулярно попадает в обзоры лидирующих программных продуктов для обработки данных ДЗЗ.